全国统一    0532-67731855

服务热线    183 0025 1396

博恩德检测
CMA检测报告
CNAS检测报告
首页 >> 最新检测 >> 汽车芯片检测
检测报告分类
汽车芯片检测
来源:汽车芯片检测机构 | 作者:博恩德检测 | 发布时间: 2022-03-11 15:12:20 | 1919 次浏览 | 分享到:

半导体芯片要进入汽车供应链，首先面临的门槛是产品必须获得车规级别质量认证，也即AEC-Q系列测试认证。针对不同产品类别，分别适用不同的系列标准：AEC-Q100/101/102/103/104/200等。要通过这个测试认证，具有一定难度，若企业之前是普通消费电子类芯片企业，几乎不可能一次性能通过测试。难度表现在：

■ 测试项目涵盖了几乎所有汽车使用过程中可能对芯片造成影响的应力验证：包括-40℃~150℃的宽范围环境温度叠加负荷工作应力；水汽/盐雾/工业废气等化学应力；颠簸/振动/跌落等机械应力；电磁辐射干扰/静电等电磁应力

■ 大量采用加速寿命试验方案验证产品使用寿命内的可靠度：单项试验时长达1000h

■ 验证样品量大：完成全部项目验证需要3个批次独立样品数量共达上千颗

■ 验证范围全面：验证内容涵盖芯片设计、晶元、封装各环节

■ 高可靠度与一致性：所有验证项目，上千颗样品，要求“零”失效

AEC-Q100测试流程


汽车电子元器件常用测试标准


■ AEC-Q100  基于集成电路应力测试认证的失效机理 
■ AEC-Q101  基于汽车电子分离半导体应力认证测试 
■ AEC-Q102  基于汽车分离半导体光电器件应力测试认证 
■ AEC-Q200  基于被动元器件应力测试认证
■ AEC-Q104  基于汽车多芯片模块应力测试认证


由于网站篇幅有限，您可在线咨询​​​工程师，博恩德可根据您的需求进行定制化的检测。

相关检测报告>>>>
更多